共聚焦显微镜

此传感器头采用独家三合一技术，结合了共聚焦、干涉、多焦面叠加三大技术，同时还具有厚、薄膜测量功能。传感器头提供标准显微镜成像、共聚焦成像、共聚焦轮廓分析、干涉轮廓分析、多焦面叠加轮廓分析、高分辨率薄膜厚度测量等功能 - 全在单台仪器之中。（厂家SENSOFAR,进口设备）

观测材料原始的彩色的表面形貌和表面轮廓；能够实现材料剖面3D测量；能够实现图像的自动拼接；全自动测量（镜头自动扫描）；高分辨率、大景深观察；表面粗糙度测量。