基于超短THz脉冲产生与探测技术发展起来的太赫兹时域光谱仪（Terahertz time domain spectroscopy, THz-TDS）技术，是本世纪80年代由AT&T贝尔实验室（AT&T Bell Laboratories）和IBM公司的T.J.Waston研究中心（IBM Thomas J. Watson Research Center）提出的。BATOP太赫兹时与光谱仪THz-TDS技术属于电磁辐射位相相干探测技术，是通过对THz脉冲不同时刻的电场强度进行位相相关的取样测量，获得THz脉冲电场的时域波形。再对THz时域波形进行傅立叶变换，获得THz脉冲电场频谱和位相信息。因此，太赫兹时与光谱仪THz-TDS可以同时直接探测被研究对象扰动的THz波电场振幅和相位双重信息。